일반적으로 사용되는 동위 원소 정보
- 방사능 반감기 : 5730 년
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 베타
- 에너지 : 0.156 MEV (156 kev) 최대 에너지
- 슬롯 감지 : 얇은 창 GM, LSC (LS) 카운팅
- 슬롯 위험 : 일반적으로 외부 슬롯 위험이 없습니다
- 차폐 : 필요하지 않음, 정상 실험실 슬롯 예방 조치
- 방사능 반감기 : 2.62 년
- 부패 메커니즘 : 양전자
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 1.275, 0.511 MEV
- 슬롯 탐지 : GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료
- 방사능 반감기 : 14.3 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 베타
- 에너지 : 1.709 MEV 최대 에너지
- 슬롯 감지 : 얇은 창 GM, LS 카운팅
- 슬롯 위험 : 베타 (가능한 X- 선 슬롯)
- 차폐 : 1 cm Lucite
- 방사능 반감기 : 25 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 베타
- 에너지 : 0.248 Mev (248 kev) 최대 에너지
- 슬롯 퇴직 : 얇은 창 GM, LSC
- 슬롯 위험 : 일반적으로 외부 슬롯 위험이 없습니다
- 차폐 : 필요하지 않음, 정상 실험실 슬롯 예방 조치
- 방사능 반감기 : 87.9 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 베타
- 에너지 : 0.167 MEV (167 kev) 최대 에너지
- 슬롯 감지 : 얇은 창 GM, LSC
- 슬롯 위험 : 일반적으로 외부 슬롯 위험이 없습니다
- 차폐 : 필요하지 않음, 일반 실험실. 슬롯 예방 조치
- 방사능 반감기 : 165 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 베타
- 에너지 : 0.252 MEV (252 kev) 최대 에너지
- 슬롯 감지 : 얇은 창 GM, LSC
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험이 거의 없습니다
- 차폐 : 필요하지 않음, 일반 실험실. 슬롯 예방 조치
- 방사능 반감기 : 83.9 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 1.120 및 0.889 MEV
- 슬롯 감지 : GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료
- 방사능 반감기 : 27.8 일
- 붕괴 메커니즘 : 전자 캡처
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 0.320 Mev (320 kev)
- 슬롯 탐지 : GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료
- 방사능 반감기 : 45.6 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 1.292, 1.095 MEV
- 슬롯 감지 GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료
- 방사능 반감기 : 100 년
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 베타
- 에너지 : 0.067 Mev (67 kev) 최대 에너지
- 슬롯 검출 : 액체 섬광 계산
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험 없음
- 차폐 : 필요하지 않음, 일반 실험실. 슬롯 예방 조치
- 방사능 반감기 : 120 일
- 붕괴 메커니즘 : 전자 캡처
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 0.401, 0.280, 0.265, 0.136, 0.121 MEV
- 슬롯 감지 : GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료
- 방사능 반감기 : 60 일
- 붕괴 메커니즘 : 전자 캡처
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 0.035, 0.031, 0.027 MEV (35, 31 및 27 kev)
- 슬롯 감지 : GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료
- 방사능 반감기 : 8.1 일
- 붕괴 메커니즘 : 베타
- 주요 슬롯 : 감마
- 에너지 : 0.364, 0.284, 0.030 mev (364, 284, 30 kev)
- 슬롯 감지 : GM, ION 챔버
- 슬롯 위험 : 외부 슬롯 위험
- 차폐 : 납, 고밀도 재료